同一器件同一时间完成多种测试：功能测试，V-I曲线测试，温度拐点系数测试，连接状态测试，管脚电压测试等。

　　图形化元件测试库的编辑，输入输出各个测试通道的逻辑时序可以由测试者图形化自定义编辑测试完成，方便快捷的建立起测试库中没有的元件库。

　　整板测试非常简单，通过图形化的测试库编辑器，根据电路板原理，定义输入激励信号及测试输出的标准响应信号，快速建立板测试库，快速批量检测电路板的功能。

　　短路电阻测量功能：三段低电阻测量范围，可以用图像及声音的变化来表示电阻值大小，此功能可以用以检查电路板线路的电阻值，及检查短路点。

　　V-I曲线测试功能：可针对元器件直接进行测试，曲线V步阶式调整，可调整为非对称电压扫描信号，正负电压可以不一致，例如：-2.5v~+10v 最大限度地保证测试的安全性。其输出电流由系统自动调整设定。扫描信号可达几十种。

　　1路v-i探棒测试隔离通道：4路。总线竞争信号隔离功能：用于解除总线竞争，确保正确测试挂在总线路总线路隔离信号。

　　能够对多种逻辑电平数字逻辑器件进行在线/离线功能测试;测试库达上万种元器件，可以通过图像化的编辑器自定义测试库，可以快速扩充测试库配有离线测试盒，快速测试批量元器件。离线测试和在线测试功能完全一致。

　　读写存储器功能测试5V/5A的直流电源程控自动输出，具有过电压及过电流保护功能。由系统自动控制输出，并可设定输出的延迟时间。方便各种类型电路板的测试。

　　V-I曲线测试具有单通道探笔测试功能，方便分立器件的V-I曲线测试LSI大规模集成电路在线功能及状态分析测试：可采取学习、比较的方式对一些常见的LSI器件进行功能及状态分析测试。

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